依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2/EN 61000-4-2/GB?T 17626.2：靜電放電抗擾度試驗(yàn)

靜電放電試驗(yàn)主要檢查人或物體在接觸設(shè)備時所引起的放電（直接放電），以及人或物體對設(shè)備鄰近物體的放電（間接放電）時對設(shè)備工作造成的影響。靜電放電時可以在0.5～20ns的時間內(nèi)產(chǎn)生1～50A的放電電流。雖然電流很大但因持續(xù)時間很短，故能量很小。所以一般靜電放電不會對人產(chǎn)生傷害，但對集成電路芯片等電子產(chǎn)品可能產(chǎn)生破壞性的危害。

? 靜電放電試驗(yàn)的測試等級為：接觸放電2kV，4kV，6kV，8kV；空氣放電：2kV，4kV，8kV，15kV。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：?IEC61000-4-4/GB?T 17626.4：快速瞬變電脈沖群抗擾性試驗(yàn);

脈沖群抗擾度測試，是模擬電網(wǎng)中眾多機(jī)械開關(guān)在切換感性負(fù)載時所產(chǎn)生的干擾。這類干擾的特點(diǎn)是：成群出現(xiàn)的窄脈沖、脈沖的重復(fù)頻率較高（kHz～MHz級）、上升沿陡峭（ns級）、單個脈沖的持續(xù)時間短暫（10～100ns級）、幅度達(dá)到KV級。成群出現(xiàn)的窄脈沖可對半導(dǎo)體器件的結(jié)電容充電，當(dāng)能量積累到一定程度后可引起線路或設(shè)備出錯。試驗(yàn)時將脈沖疊加在電源線（通過耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)）和通信線路（通過電容耦合夾），對設(shè)備形成干擾。

受試設(shè)備（EUT）的試驗(yàn)部分主要包括設(shè)備的供電電源端口、保護(hù)接地（PE）、信號和控制端口。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

??IEC 61000-4-5/GB?T 17626.5：浪涌（沖擊）抗擾性試驗(yàn)

浪涌（沖擊）抗擾性試驗(yàn)，是模擬自然界里的雷擊（間接雷）以及供電線路中因大型開關(guān)切換所引起的電壓變化對供電線路和通信線路的影響。浪涌試驗(yàn)規(guī)定了兩種波形（1.2/50μs和通信波10/700μs）、幅值為0.5kV到4kV，能量特別大，對EUT的影響可能是破壞性的。10/700μs（俗稱通信波）適用于長距離對稱通信端口，1.2/50μs適用于電源線端口和其他信號線端口。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61000-4-11/ GB T 17626.11：電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾性試驗(yàn)

電壓暫降和電壓中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷的連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓變化不能及時作出反應(yīng)，就可能引發(fā)故障。

本方法適用于額定輸入電流每相不超過16A連接到50Hz/60Hz交流網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備，對于電流大于16A的測試要求，由IEC 61000-4-34標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

電壓暫降的測試等級以%UT（暫降后剩余電壓為參考電壓的百分比）表示：0%，40%，70%，80%，120%。

短時中斷一般指電源完全中斷達(dá)250個周期（50Hz）或者300個周期（60Hz）電壓變化，一般指突變到70%后維持1個周期，再經(jīng)過25/30個周期后恢復(fù)到參考電壓的情況。

測試儀器示意圖

一般單相測試設(shè)備，以選擇傳導(dǎo)瞬態(tài)抗干擾綜合機(jī)最為經(jīng)濟(jì)，例如UCS500N5，UCS500N7，配置抽頭變壓器后，就能進(jìn)行測試。

PFS503N

• 獨(dú)立式測試設(shè)備

• 符合?IEC 61000-4-11?和?IEC 61000-4-34?標(biāo)準(zhǔn)的三相全兼容測試系統(tǒng)

• 適用于三角型和星型供電系統(tǒng)測試

• 具備6個電子開關(guān)及短路保護(hù)功能

• 額定電壓?3x440V，每相電流最大可達(dá)?100A

• 直流信號控制外置自耦變壓器